測試系統(tǒng)
如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: 測試系統(tǒng)
產品型號: 58601
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
致茂58601測試系統(tǒng)是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU，溫度控制與可符合不同光電半導體。可供發(fā)光二極體，雷射半導體，光電偵測器與其他半導體使用。 每個模組*高可測試80組獨立SMU，可提供待測物電流與偏壓并量測之。
測試系統(tǒng)
的詳細介紹
測試系統(tǒng) 主要特色：
- 適用于燒機與老化測試
- *多達800通道同時測試
- *高達40 安培電流輸出
- *高達150度 溫度控制
- 操作員利用Carrier放置待測物
- Change Kit 設計供測試種類不同待測物
|
燒機-可靠度&老化測試
致茂58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU，溫度控制與可符合不同光電半導體。可供發(fā)光二極體，雷射半導體，光電偵測器與其他半導體使用。 每個模組*高可測試80組獨立SMU，可提供待測物電流與偏壓并量測之。
電流源
每片獨立的電流電壓卡SMU可提供五種不同的電流等級，由5Amp 到20 與40Amp. 獨立的電壓量測可供高串聯(lián)數的待測物測試于高電壓等級. 多組的電流源也可藉由并聯(lián)形式提高電流的輸出能力。
高彈性化設計
致茂使Conversion Kit由半導體轉換到光電半導體使用。應用Conversion Kit于58601燒機測試可以擁有以下的優(yōu)點:
- 高密度通道
- 高電流輸出
- 光電流監(jiān)控
- 監(jiān)控量測光電半導體
- 暗電流量測
- 提供偏壓
- 獨立電壓量測
- Bypass of Failing Devices
- 符合各種雷射光電半導體
高效率運作
- 提供高溫控制，降低老化時間與較少的通道，同時可降低成本，提供快速結果
- 高密度設計降低使用空間，優(yōu)于其他設計
- 通過制造商進行批量測試，Carriers可用于燒機測試與特性測試，軟體可主動追蹤資料于燒機與特性測試
- 在利用Change kit 的設計，在相同基礎設備下可快速切換供不同種待測物使用，待測物降低成本
- 精細的probing 方式可提供次系統(tǒng)與高單價包裝待測物
- 熱插拔電源模組降低故障機率于MTBF/MTTR測試
取得產品價格. 點選您有興趣的產品并加入詢價車, 簡單2步驟將詢價單寄給我們, 或繼續(xù)回到產品頁選取更多產品.
All specifications are subject to change without notice.
- Site Map
- Privacy Statement
- Terms of use
© CHROMA ATE INC. 2013 All Right Reserved
