組件測試掃描儀

近幾年來由于組件變得更加復雜與多通道等復合性問題，使測試困難與結構變得復雜，增加人為錯誤可能性與人力成本。Chroma 13001提供多信道掃描功能，搭配 Chroma 3302 / 3252 / 11022 / 11025 LCR 表做電感值、電容值、電阻值等量測，并包含圈數比 (turn ratio) 量測 (如果LCR表有提供此功能)，也可以與 Chroma 11200 電容漏電流/絕緣電阻表配合絕緣電阻測試，并有專為漏感量測的短路設計。單臺可以支持8插槽模塊，當搭配8個選配 A113007 的 40 Channels 掃描模塊，單臺可多達320通道。并提供主/從設計，客戶可經由主機標準的RS-232、GPIB或USB接口控制主機本身輸出的測試回路，與包含外接擴充高達8臺的受控主機的部份，以滿足客戶更多通道數需求。

Chroma 13001支持Chroma 8800組件自動測試系統，提供多步驟的測試程序，滿足多樣化測試應用，如提供RJ-45設備(包含LAN 模塊，Ethernet IC，PoE IC等)、玻璃基板(包含太陽能板)、LCD 玻璃基板、玻璃印刷電路(包含觸控屏幕touch panel等)、PCB、電路基板、EMI Filter、充電電池測試、ICT應用等應用測試客戶。可以結合 Chroma 8800組件自動測試系統提供過程控制與數據收集功能。搭配自動化可節省人力成本、減少人為疏失錯誤、提升數據管理質量與效率。